| Обозначение: |   ГОСТ 24523.1-80 | 
| Обозначение англ: |   GOST 24523.1-80 | 
| Статус: | введен впервые | 
| Название рус.: | Периклаз электротехнический. Метод определения двуокиси кремния | 
| Название англ.: | Electrotechnical periclase. Method for the determination of silicon dioxide | 
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 | 
| Дата актуализации: | 01.01.2021 | 
| Дата введения: | 01.07.1983 | 
| Область применения: | Стандарт распространяется на электротехнический периклаз и устанавливает фотометрический метод определения масовых долей двуокиси кремния в диапазоне от 0,2 до 3,0 %. | 
| Оглавление: | 1 Общие требования 2 Аппаратура, реактивы и растворы 3 Проведение анализа 4 Обработка результатов | 
| Разработан: |  Министерство черной металлургии СССР
  | 
| Утверждён: | 30.12.1980 Государственный комитет СССР по стандартам (USSR National Committee on Standards 6281)
  | 
| Издан: |  ИПК Издательство стандартов (2004 г. )
  | 
| Расположен в: | 
  | 
| Список изменений: |  | 
| Нормативные ссылки: |  |