| ||||||||||||||||||||||||||||||||||
 Скачать ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометраДата актуализации: 01.01.2021
 | 
| Обозначение: |   ГОСТ Р 8.696-2010 | 
| Обозначение англ: |   GOST R 8.696-2010 | 
| Статус: | введен впервые | 
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра | 
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer | 
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 | 
| Дата актуализации: | 01.01.2021 | 
| Дата введения: | 01.09.2010 | 
| Область применения: | Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус 14 до 10 в ст. минус 6 А. Стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния. | 
| Оглавление: | 1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины и определения 4 Требования к погрешности измерений 5 Средства измерений и вспомогательные устройства 6 Метод измерений 7 Требования безопасности 8 Требования к квалификации операторов 9 Условия измерений 10 Подготовка и проведение измерений 11 Обработка результатов измерений 12 Контроль погрешности результатов измерений 13 Оформление результатов измерений Приложение А (справочное) Результаты измерений межплоскостных расстояний в кристалле и интенсивности рефлексов в дифракционной картине Библиография  | 
| Разработан: |  ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума ФГУП Российский научный центр Курчатовский институт ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)  | 
| Утверждён: | 10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (10-ст) | 
| Издан: |  Стандартинформ (2010 г. ) Стандартинформ (2019 г. )  | 
| Расположен в: | |
| Нормативные ссылки: | 
  | 














