| ||||||||||||||||||||||||||||||||||
 Скачать ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверкиДата актуализации: 01.01.2021
 | 
| Обозначение: |     ГОСТ 8.593-2009 | 
| Обозначение англ: |     GOST 8.593-2009 | 
| Статус: | введен впервые | 
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки | 
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification | 
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 | 
| Дата актуализации: | 01.01.2021 | 
| Дата введения: | 01.11.2010 | 
| Область применения: | Стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в степени минус девять до 10 в степени минус шесть м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592. | 
| Оглавление: | 1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины и определения 4 Операции и средства поверки 5 Требования к квалификации поверителей 6 Требования безопасности 7 Условия поверки и подготовка к ней 8 Проведение поверки 9 Обработка результатов измерений 10 Оформление результатов поверки  | 
| Разработан: |  ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)  | 
| Утверждён: | 11.11.2009 Межгосударственный Совет по стандартизации, метрологии и сертификации (Inter-Governmental Council on Standardization, Metrology, and Certification 36) 05.04.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (57-ст)  | 
| Издан: |  Стандартинформ (2010 г. ) | 
| Расположен в: | |
| Нормативные ссылки: | 
  | 










