| Обозначение: |   МИ 41-75 | 
| Обозначение англ: |   MI 41-75 | 
| Статус: | действует | 
| Название рус.: | Методика выполнения измерений параметров шероховатости поверхности по ГОСТ 2789-73 при помощи приборов профильного метода | 
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 | 
| Дата актуализации: | 01.01.2021 | 
| Дата введения: | 19.04.1974 | 
| Область применения: | Методика распространяется на методы выполнения измерений параметров шероховатости при помощи приборов профильного метода. | 
| Оглавление: | 1. Применение контактных профилографов с графической регистрацией профиля, микроинтерферометров, приборов светового сечения 2. Применение контактных профилометров последовательного преобразования профиля системы М | 
| Разработан: |  ВНИИМС
  | 
| Утверждён: | 19.04.1974 ВНИИМС (VNIIMS 10)
  | 
| Издан: |  Издательство стандартов (1975 г. )
  | 
| Расположен в: | 
  | 
| Нормативные ссылки: |  |