| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
 Скачать ГОСТ 24523.1-2021 Периклаз электротехнический. Метод определения оксида кремния (IV)Дата актуализации: 01.06.2025
 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Обозначение: | ![]()   ГОСТ 24523.1-2021 | 
| Статус: | действующий | 
| Название рус.: | Периклаз электротехнический. Метод определения оксида кремния (IV) | 
| Название англ.: | Electrotechnical periclase. Method for determination of silicon (IV) dioxide | 
| Дата актуализации текста: | 01.01.2024 | 
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 | 
| Дата регистрации: | 30.06.2021 | 
| Дата издания: | 30.08.2021 | 
| Дата введения: | 01.11.2021 | 
| Взамен: |  ГОСТ 24523.1-80 | 
| Нормативные ссылки: |  ГОСТ 61;ГОСТ OIML R 76-1; ГОСТ 83; ГОСТ 1770; ГОСТ 3118; ГОСТ 3765; ГОСТ 4199; ГОСТ 4204; ГОСТ 5817; ГОСТ 6563; ГОСТ 6709; ГОСТ Р 58144-2018; ГОСТ 9147; ГОСТ 9428; ГОСТ ИСО/МЭК 17025; ГОСТ 24104; ГОСТ Р 53228-2008; ГОСТ 24523.0; ГОСТ 25336; ГОСТ 29227 | 
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на электротехнический периклаз и устанавливает фотометрический метод определения оксида кремния (IV) при массовой доле от 0,2 % до 3,0 % | 
| Приложение №1: | Поправка к ГОСТ 24523.1-2021 | 
| Расположен в: | |













| Обозначение: | Поправка к ГОСТ 24523.1-2021 | 
| Дата введения: | 13.07.2023 | 
