| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
 Скачать ГОСТ 8.003-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методика поверкиДата актуализации: 01.06.2025
 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Обозначение: | ![]()   ГОСТ 8.003-2010 | 
| Статус: | действующий | 
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методика поверки | 
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Tool-making microscopes. Verification procedure | 
| Дата актуализации текста: | 01.01.2024 | 
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 | 
| Дата регистрации: | 10.06.2010 | 
| Дата издания: | 12.01.2012 | 
| Дата введения: | 01.03.2012 | 
| Взамен: |  ГОСТ 8.003-83 | 
| Нормативные ссылки: |  ГОСТ 8.050-73; ГОСТ 8.395-80; ГОСТ 12.1.019-79; ГОСТ 1012-72; ГОСТ 2875-88; ГОСТ 3749-77; ГОСТ 5556-81; ГОСТ 8026-92; ГОСТ 8074-82; ГОСТ 8981-78; ГОСТ 9038-90; ГОСТ 9392-89; ГОСТ 9696-82; ГОСТ 10197-70; ГОСТ 12069-90; ГОСТ 13837-79; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 21401-75; ГОСТ 29298-2005; ГОСТ Р 12.1.019-2009 | 
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает методику первичной и периодической поверок инструментальных микроскопов всех типов, по ГОСТ 8074. Стандарт распространяется также на отечественные инструментальные микроскопы с характеристиками, аналогичными приведенным в ГОСТ 8074 | 
| Приложение №1: | Поправка к ГОСТ 8.003-2010 | 
| Приложение №2: | Поправка к ГОСТ 8.003-2010 | 
| Расположен в: | |


























| Обозначение: | Поправка к ГОСТ 8.003-2010 | 
| Дата введения: | 12.03.2021 | 

| Обозначение: | Поправка к ГОСТ 8.003-2010 | 
| Дата введения: | 10.10.2023 | 
