| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Скачать ГОСТ 17772-88 Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристикДата актуализации: 01.06.2025
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Обозначение: | ![]() ГОСТ 17772-88 |
| Статус: | не действует в РФ |
| Название рус.: | Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик |
| Название англ.: | Semiconducting photoelectric detectors and receiving photoelectric devices. Methods of measuring photoelectric parameters and determining characteristics |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 30.09.1988 |
| Дата введения: | 01.07.1989 |
| Дата окончания срока действия: | 01.03.2022 |
| Код ОКП: | 634000 |
| Взамен: | ГОСТ 17772-79 |
| Содержит требования: | СТ СЭВ 3789-82 |
| На территории РФ пользоваться: | ГОСТ Р 59607-2021 |
| Нормативные ссылки: | ГОСТ 8.001-80; ГОСТ 8.023-86; ГОСТ 8.186-83; ГОСТ 8.198-85; ГОСТ 8.207-76; ГОСТ 8.326-78; ГОСТ 8.383-80; ГОСТ 8.513-84; ГОСТ 12.0.004-79; ГОСТ 12.1.019-79; ГОСТ 12.1.030-81; ГОСТ 12.1.031-81; ГОСТ 12.2.007.0-75; ГОСТ 12.2.007.1-75; ГОСТ 12.2.007.2-75; ГОСТ 12.2.007.3-75; ГОСТ 12.2.007.4-75; ГОСТ 12.2.007.5-75; ГОСТ 12.2.007.6-75; ГОСТ 12.2.007.7-75; ГОСТ 12.2.007.8-75; ГОСТ 12.2.007.9-75; ГОСТ 12.2.007.10-75; ГОСТ 12.2.007.11-75; ГОСТ 12.2.007.12-75; ГОСТ 12.2.007.13-75; ГОСТ 12.2.007.14-75; ГОСТ 12.2.032-78; ГОСТ 12.2.033-78; ГОСТ 12.3.002-75; ГОСТ 12.4.013-85; ГОСТ 3044-84; ГОСТ 3789-82; ГОСТ 9293-74; ГОСТ 17616-82; ГОСТ 18986.4-73 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические полупроводниковые приемники излучения (ФЭПП) и фотоприемные устройства (ФПУ) на их основе, чувствительные к излучению в диапазоне длин волн от 0,2 до 100 мкм. Стандарт не распространяется на ФЭПП и ФПУ, подлежащие аттестации в качестве средств измерений. Стандарт устанавливает методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик |
| Расположен в: | |
































































