Скачать ГОСТ 2388-70 Фотоэлементы селеновые для фотометрирования и колориметрирования пиротехнических средств. Общие технические требования

Дата актуализации: 01.06.2025

ГОСТ 2388-70

Фотоэлементы селеновые для фотометрирования и колориметрирования пиротехнических средств. Общие технические требования

Обозначение:	ГОСТ 2388-70
Статус:	действующий
Название рус.:	Фотоэлементы селеновые для фотометрирования и колориметрирования пиротехнических средств. Общие технические требования
Название англ.:	Selenium photocells for photometric and colorimetric measurement of pirotechnical agents. General technical requirements
Дата актуализации текста:	06.04.2015
Дата актуализации описания:	01.07.2023
Дата издания:	01.03.1998
Дата введения:	01.01.1971
Код ОКП:	443700
Взамен:	ГОСТ 2388-43
Нормативные ссылки:	ГОСТ 8.332-78;ГОСТ 8711-93;ГОСТ 9569-79;ГОСТ 10771-82
Область применения:	Настоящий стандарт распространяется на селеновые фотоэлементы, предназначенные для фотометрирования и колориметрирования пламени пиротехнических составов. Стандарт устанавливает требования к фотоэлементам, применяемым при фотометрировании и колориметрировании светящегося пламени единичных световых вспышек с временем достижения максимума силы света не менее 0,001 с и модулированного света с частотой не более 100 Гц; при этом освещенность на фотоэлементе должна быть от 2 до 2000 лк
Список изменений:	№1 от 01.11.1980 (рег. 19.08.1980) «Срок действия продлен» №2 от 01.03.1985 (рег. 16.11.1984) «Срок действия продлен» №3 от 01.01.1992 (рег. 19.06.1991) «Срок действия продлен»
Расположен в:	Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Оптоэлектроника. Лазерное оборудование Классификатор государственных стандартов Измерительные приборы. Средства автоматизации и вычислительной техники Оптические и оптико-механические приборы, световые и электронные микроскопы Приборы спектроскопические и фотометрические Окп Приборы и аппаратура оптические Приборы оптические общепромышленного, специального и научного применения Приборы фото-, рефракто-и поляриметрические, для производства и контроля микроэлектронных элементов